2015年7月19-22日，第十一届国际电介质材料特性及应用会议（IEEE ICPADM）在澳大利亚悉尼新南威尔士大学召开。来自世界各地的200多名科研工作者参加了本次会议。会议共收录文章200余篇。
　　  电工研究所的徐蓉副研究员和任成燕副研究员参加了会议，共发布了题为“Research on Surface Flashover Properties of Alumina Ceramics Modified by Ion Implantation”、“Thermal Analysis of Insulators in Electromagnetic Launcher System”、“Polarity Effect on Corona Discharge of Needle-Plane Electrodes and Audible Noise Under DC Voltage” 、“Influence of Frequency on Electrical Tree Growth of Nylon 6 Under Nanosecond Pulses”4篇报告，对电工所在真空沿面闪络、绝缘材料的电树老化、电晕放电效应及装置的绝缘问题等方面的最新成果进行了汇报，并与参会人员进行了深入地探讨与交流。
　　电介质材料特性及应用国际会议是电介质和电气绝缘研究领域国际学术交流的权威平台，在全球电介质性能与应用领域有着广泛的影响力，每3年举办一次，此次会议的主题涉及绝缘老化及寿命评估、环境友好电介质及新材料、传导及击穿/表面及界面现象、装置及系统的绝缘、监测与诊断/建模与仿真、纳米技术及纳米电介质、局部放电及空间电荷等。本次会议使我们对国际电介质绝缘科学与技术领域的最新发展有了全面地了解，加强了我们与国际同行的交流，扩大了我们在该领域的国际影响力。IEEE ICPADM 2018会议将于2018年在中国西安召开。